一种基于空间辐射的电子设备天馈单元测试装置及方法.pdfVIP

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2023-05-15 发布于四川
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一种基于空间辐射的电子设备天馈单元测试装置及方法.pdf

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本发明涉及电子设备天馈单元测试技术领域，公开了一种基于空间辐射的电子设备天馈单元测试装置及方法，该测试装置，包括主机、信号指示/接收天线、校准天线，还包括分别与主机电相连的开关滤波矩阵、频谱仪、信号源，信号指示/接收天线、校准天线分别与开关滤波矩阵电相连，主机还用以与天馈单元电相连。本发明解决了现有技术存在的设备复杂、对场地要求高、造价高、测试效率低等问题。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114720794 A (43)申请公布日 2022.07.08 (21)申请号 202210133707.4 (22)申请日 2022.02.14 (71)申请人中国电子科技集团公