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- 2023-05-16 发布于北京
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本发明公开了一种发光角度的测量装置，包括：支座；测试卡盘，转动安装在支座上；定位件，一端固定连接于测试卡盘，且测试卡盘的旋转中心位于定位件的轴心线延长线上；定位结构，连接于定位件的一端，定位结构容纳有被测件，且允许定位结构转动，且定位结构的旋转轴垂直于测试卡盘；以及接收结构，位于定位结构中心的延长线上，且接收结构位于被测件射出光线的一侧。本发明提供了一种发光角度的测量装置及测量方法，能够快速、低成本且高精度地测量发光角度。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114777688 A
(43)申请公布日 2022.07.22
(21)申请号 202210505533.X
(22)申请日 2022.05.10
(71)申请人 宁波安芯美半导体有限公司
地址 3
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