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半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-17 发布于四川
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半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质.pdf

    本申请涉及半导体芯片测试技术领域，公开了一种半导体芯片测试方法、测试系统、计算机可读存储介质。半导体芯片测试方法应用于测试系统，包括：检测半导体芯片是否工作；若是，则获取半导体芯片的存储空间；根据存储空间将半导体芯片的物理地址划分为多个块；分别对每个块的功能进行测试，获取功能正常的块的第一数量；基于第一数量和半导体芯片的所有块的总数量，得到与半导体芯片对应的标识。根据存储空间和物理地址对半导体芯片进行分块，对每一块进行测试，测试结果以比例的形式标识出来，能够直观的得到每个半导体芯片的性能高低，方

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114823402 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210203281.5 (22)申请日 2022.03.03 (71)申请人 前海晶云（深圳）存储技术有限公司 地

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