1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

芯片测试方法及其装置、计算机设备及其可读存储介质.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.92万字
  • 约 16页
  • 2023-05-17 发布于四川
  • 举报

芯片测试方法及其装置、计算机设备及其可读存储介质.pdf

    本申请涉及一种芯片测试方法及其装置、计算机设备及其可读存储介质。芯片测试方法包括：向待测芯片施加测试信号；向所述待测芯片发送数据信号，所述待测芯片基于所述测试信号和所述数据信号进入测试模式，并对所述待测芯片进行测试电压调节。本申请提供的芯片测试方法，对于每个待测芯片，均由测试信号和数据信号共同控制才可进入测试模式，这样能够利用待测芯片的数据信号信息，实现对待测芯片测试模式的独立控制，进而实现对待测芯片测试电压的独立控制。如此，能够对测试电压进行更精确的调节，提升芯片测试的可靠性水平。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114822673 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210338251.5 (22)申请日 2022.04.01 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >