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ADC功能安全校验装置和方法、CMOS图像传感器、参考像素单元.pdfVIP

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  • 2023-05-23 发布于四川
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ADC功能安全校验装置和方法、CMOS图像传感器、参考像素单元.pdf

    本发明公开了一种ADC功能安全校验装置和方法、CMOS图像传感器、参考像素单元，包括自检信号发生单元、DAC单元、参考像素单元以及判断单元，所述自检信号发生单单元用于输出ADC自检数字信号给所述DAC单元以及所述判断单元，所述DAC单元将所述ADC自检数字信号转换成模拟信号并发送给所述参考像素单元，所述参考像素单元输出对应的电压信号给CMOS图像传感器中的列级ADC，所述列级ADC输出待检数字信号给所述判断单元，最后，所述判断单元基于所述ADC自检数字信号和所述待检数字信号判断所述列级ADC是否

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112165586 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202011042997.9 (22)申请日 2020.09.28 (71)申请人 成都微光集电科技有限公司

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