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- 2023-05-26 发布于四川
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本发明公开了一种模块综测校准机,包括:进料机构,用于输送待测试芯片;多个屏蔽测试机构,沿所述进料机构的进料方向分别设置于所述进料机构的两侧;所述屏蔽测试机构包括用于进行芯片测试的测试工装以及用于屏蔽干扰信号的屏蔽箱,所述测试工装设置于所述屏蔽箱内;至少一个抓取机构,设置于所述进料机构的上方,所述抓取机构包括驱动连接的第一移动组件和机械手,所述机械手可在所述第一移动组件的驱动下从所述进料机构上抓取所述待测试芯片,并分别移送至所述进料机构两侧的所述屏蔽测试机构进行测试。本发明实施例的技术方案可以提高
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115973671 A
(43)申请公布日 2023.04.18
(21)申请号 202211668976.7 B65G 47/82 (2006.01)
(22)申请日 2022.12.
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