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2023-05-27 发布于四川
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一种测距装置及其扫描视场的控制方法.pdf

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一种测距装置(100)的扫描视场的控制方法(S1500)及测距装置(100)，方法(S1500)包括：发射光脉冲序列(S1510)；通过至少三个光学元件(214,215)将光脉冲序列依次改变至不同的传播方向出射(S1520)；通过控制至少三个光学元件(214,215)的转动速度以控制扫描视场的扫描图案、位置、扫描密度中的至少一种；和/或，通过控制所述至少三个光学元件(214,215)的初始相位控制扫描视场的延伸方向(S1530)。根据该方法(S1500)及装置(100)，通过控制多个光学元件(2

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112313531 A (43)申请公布日 2021.02.02 (21)申请号 201980009041.8 (74)专利代理机构北京市磐华律师事务所

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