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一种多PAD单芯片微型的测试装置.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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一种多PAD单芯片微型的测试装置.pdf

    本发明提供一种多PAD单芯片微型的测试装置，其特征在于：它包括电路板（1），在电路板（1）上从下向上依次设有探针台（2）、芯片容置板（3）以及支撑台（4），在支撑台（4）上交接有上盖板（5），在上盖板（5）上连接有与芯片容置板（3）对应配合的压块（6），在上盖板（5）上还设有与压块（6）连接配合的旋钮（7）。本发明结构简单、使用方便、测试过程更稳定，可根据测试要求的不同安装相应数量的探针，可同时完成多针测试。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112345913 A (43)申请公布日 2021.02.09 (21)申请号 202011026761.6 (22)申请日 2020.09.25 (71)申请人 华东光电集成器件研究所

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