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基于热流的功率半导体器件特征频率提取方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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基于热流的功率半导体器件特征频率提取方法及系统.pdf

    本发明提供了一种基于热流的功率半导体器件特征频率提取方法，包括：给功率半导体器件施加阶跃损耗，记录器件时域热阻抗曲线和输出热流曲线；对所述时域热阻抗曲线进行频域转换，得到频域热阻抗模型及其特征频率个数及区间；结合所述频域热阻抗模型的特征频率，对所述时域输出热流曲线进行拟合，提取出功率半导体器件的特征频率值。进一步的，对时域热阻抗曲线进行曲线拟合，提高频域热阻抗模型的特征频率的准确度。对应的，本发明还提供了上述方法对应的系统、终端以及介质。本发明简化了频域热阻抗模型参数提取过程，提高了参数的准确度

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112347614 A (43)申请公布日 2021.02.09 (21)申请号 202011122486.8 (22)申请日 2020.10.20 (71)申请人 上海交通大学 地址

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