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一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置.pdf

    本发明公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，具体包括以下步骤：S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机开始工作，电机已预先调整好转速，电机启动带动第一皮带轮转动，第一皮带轮继而通过皮带带动第二皮带轮转动，此时活动杆也开始转动，本发明涉及激光二极管技术领域。该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112345920 A (43)申请公布日 2021.02.09 (21)申请号 202011210841.7 (22)申请日 2020.11.03 (71)申请人 武汉智汇芯科技有限公司

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