适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置.pdfVIP

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2023-05-29 发布于四川
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适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置.pdf

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本发明提供一种适用50‑150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置，该装置包括：傅里叶变换红外光谱测量系统、机械调制解调装置、辐射收集系统、真空低温信号辐射系统。傅里叶变换红外光谱测量系统，包括傅里叶变换红外光谱仪、计算机和连接装置；所述的机械调制解调系统，包括用以机械调制的斩波器及用以解调制的锁相放大器；斩波器的参考信号输出端与锁相放大器的参考信号输入端相连；锁相放大器的信号输入端与辐射热测量计的信号输出端相连，其输出端与电路控制板的输入端相连。所述的辐射收集系统，包括用于收集低温辐射信号的抛

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112432915 B (45)授权公告日 2022.07.12 (21)申请号 201910788369.6 CN U,1987.03.18 (22)申请日 20