一种改善槽栅VDMOS器件寄生体二极管反向恢复特性的方法.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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一种改善槽栅VDMOS器件寄生体二极管反向恢复特性的方法.pdf

本发明公开了一种改善槽栅VDMOS器件寄生体二极管反向恢复特性的方法,该方法通过在P阱区与N‑外延之间设置一个轻掺杂的Pbuffer缓冲层,通过设置缓冲层可有效降低寄生体二极管正向导通时阳极注入效率,减小寄生体二极管反向恢复电荷。在漏极侧对应源极P+位置下设置高掺杂的p+型控制区,器件漏极区由N型和P+型区镶嵌组成,P+型区为理想欧姆接触,反向恢复过程中为空穴提供了通道,有效改善器件寄生体二极管开关特性。本发明制造方法可有效降低槽栅VDMOS器件寄生体二极管反向恢复电荷,改善器件寄生体二极管反

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112447525 A (43)申请公布日 2021.03.05 (21)申请号 202011379084.6 (22)申请日 2020.11.30 (71)申请人 北京

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