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- 2023-05-30 发布于四川
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系统和方法可以用于监视和/或控制在摆动图案中移动工艺光束的材料处理,例如摆动焊接工艺。当至少一个工艺光束根据工件的处理部位(例如,焊接部位)上的摆动图案移动时,内联相干成像(ICI)系统将成像光束至少部分地独立于工艺光束移动到摆动图案上的一个或多个测量位置并在那些位置上获得ICI测量值(例如,深度测量值)。ICI测量值可以用于例如评估焊接工艺期间的小孔和/或熔体池特性。尽管本申请描述了摆动焊接工艺,但是本文描述的系统和方法也可以与在包括但不限于增材制造、标记和材料去除的处理期间激光或其他能量光束
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112469526 A
(43)申请公布日 2021.03.09
(21)申请号 201980048317.3 保罗 ·J ·L ·韦伯斯特
(22)申请日 2
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