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本发明公开一种卫星综合电子机内测试设计方法，首先根据综合电子单机物理功能划分和测试性要求，设计分层的BIT架构；然后对产品进行扩展FMEA分析，确定产品的故障模式以及选用测试点和测试点设计电路；筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点；最后根据测试点特性，结合工程实践经验设计测试电路完成BIT设计。本方案通过对产品进行扩展FMEA分析，优选出反映产品关键功能和故障判断的测试点；并针对测试点特性设计专门测试电路，利用单机内部软硬件资源对测试点采集或测试，能够在不打开设备结构的情况下，缩小故障
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112526269 A
(43)申请公布日 2021.03.19
(21)申请号 202011382151.X
(22)申请日 2020.12.01
(71)申请人 山东航天电子技术研究所
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