仪器分析第八章原子发射光谱.pptxVIP

第八章 原子吸收光谱分析(AAS);本章基本要求;　　(原子吸收分光光度法 原子吸收法 AAS);18世纪，武郎斯顿和福劳和费就观察到太阳光谱中的原子吸收谱线。 19世纪，1929年瑞典农学家 Lwndegardh 用空气-乙炔火焰，气动喷雾摄谱法进行火焰光度分析。 1955年 由澳大利亚物理学家 Walsh 和 荷兰科学家 Alkemade 发明了原子吸收光谱分析技术，并用于化学物质的定量分析。 1976以来，由于微电子技术的发展使原子吸收技术的应用不断进步，衍生出了石墨炉原子化技术、塞曼效应背景校正等先进技术，尤其在临床检验、环境保护、生物化学等方面应用广泛。; ;8.2　原子吸收光谱分析法基本原理;　　从基态到第一激发态间的直接跃迁最易发生，对大多数元素来说，共振线是元素的灵敏线。; 8.2.2 谱线轮廓与谱线变宽;K;一、 自然宽度;1、 共振变宽(赫鲁兹马克变宽、压力变宽);第12页，共56页。;8.2.3 　积分吸收和峰值吸收;　　谱线的积分吸收∫Kνdν与火焰中基态原子数成正比： ;　　准确测定积分吸收非常困难: 　　谱线的半宽度仅在0.001nm数量级，必须采用高分辨率的单色仪。 　　对于一个波长为500.0nm、线宽是0.001nm的谱线，要分辨率高达500,000的单色仪才能解析，这样的指标目前无法达到。;　　1955年澳大利亚物理学家瓦尔什提出：在用锐线光源辐射及采用温度不太高而稳定的火焰条件下，峰值吸收系数K0与火焰中待测元素的基态原子浓度N0之间存在着简单的线性关系，N0值可由测定K0而得到： A＝ｋN0 L　　 峰值吸收法;　　测量峰值吸收系数K0 要求： 必须使通过吸收介质的发射线的中心频率ν0, e与吸收线中心频率ν0, a 严格一致； 要求发射线的半宽度Δνe 远小于吸收线的半宽度Δνa。;8.2.4 　基态原子数与原子吸收定量基础;温度越高，Nj／N0值越大。 在同一温度，电子跃迁的能级Ej越小，共振线的频率越低，Nj／N0值也越大。 　　对大多数元素来说，Nj ／N0 值都很小(＜1%)，即火焰中基态原子数占绝对多数，因此可用基态原子数N0代表吸收辐射的原子总数。 参看P.235表8－2; A＝kC　　;8.3　原子吸收分光光度计;　光源;第23页，共56页。;　　空心阴极灯发射的是阴极元素的光谱。 　　单元素灯 　　多元素灯 　　空心阴极灯的发光强度与工作电流有关。灯电流过小，放电不稳定；灯电流过大，谱线变宽，甚至引起自吸，导致测定灵敏度降低，灯寿命缩短。 在实际工作中应选择合适的工作电流。;　原子化系统;（1）雾化器 又称喷雾器，其作用是吸入试样溶液并将其雾化，使之形成直径为微米级的气溶胶。目前应用最广的是气动同心型喷雾器，如图所示。;（2） 雾化室 　　　设有撞击球、扰流器及废液排出口等装置。;（3）燃烧器;（4）火焰 作用是使待测物质分解为基态自由原子。;二、　非火焰原子化器;第31页，共56页。;高温石墨炉的主要优点： 具有较高且可控制的温度； 原子化效率高（气态原子停留时间比在火焰中长100～1000倍） 试样耗量小； 绝对灵敏度比火焰法高几个数量级，可达10-12g； 尤其适于难挥发、难原子化元素和微量试样的分析。 缺点： 分析结果的精密度仅达2～5％，比火焰法差； 有时记忆效应比较严重； 由杂散光引起的背景干扰较大，通常都需要作背景校正。;　分光系统（单色器）;例;　检测系统;工作原理：参看P.247;7.4　定量分析方法;7.5　干扰及其抑制;　　;　电离干扰;　光谱干扰;　背景校正方法;7.6　测定条件的选择;　空心阴极灯的工作电流 ;　进样量 ;8.7　灵敏度、特征浓度及检测极限;　检出限 ;8.8　原子吸收分光光度分析法的特点及其应用;8.9　原子荧光光谱法（AFS）简介;第50页，共56页。;　　各种元素的原子所发射的荧光波长各不相同－－－各种元素原子的特征。 　　发射的荧光强度和单位体积的原子化器中该种元素的基态原子数目成正比－－－原子荧光定量分析。;　　原子荧光光度计与原子吸收光度计很多部件是相同的：原子化器（火焰或石墨炉），检测器（光电倍增管），切光器和交流放大器等。 　　主要区别：在原子荧光分析中，为了避免激发光源对检测原于荧光信号的影响，将检测器与激发光束成直角配置。;*;*;本章小结;作　业