屏蔽效能测试系统及方法.pdfVIP

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  • 2023-06-03 发布于四川
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本发明涉及电磁屏蔽技术领域,公开了一种屏蔽效能测试系统及方法,该系统包括:发射设备、接收设备和紧缩场全波暗室;紧缩场全波暗室内设置有反射曲面;发射设备产生预设测试频点的球面信号波,并将球面信号波发射至反射曲面,反射曲面将接收到的球面信号波转换为平面波并发射至待测材料;接收设备在接收到平面波穿过待测材料产生的屏蔽信号波时,确定屏蔽信号波对应的屏蔽指示值;接收设备还根据屏蔽指示值和预设测试指示值确定待测材料对应的屏蔽效能。由于本发明通过反射曲面将球面信号波转换为平面波测试屏蔽效能,从而创建了一个合适

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115774152 A (43)申请公布日 2023.03.10 (21)申请号 202211549223.4 (22)申请日 2022.12.05 (71)申请人 航天科工武汉磁电有限责任公司 地址

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