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本发明一种具有侧出气孔的功率器件高温高压测试用探针卡属于半导体器件测试技术领域；该探针卡从上到下依次设置进气系统、PCB板、转接层、导引板和探针；进气系统底部具有多个下出气孔和侧出气孔，PCB板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第一通孔，转接层上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第二通孔，导引板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第三通孔，下出气孔、第一通孔、第二通孔和第三通孔同轴设置，从下出气孔喷射出的高温高压气体，依次经过第一通孔、第二通孔和第三通孔后，吹入导引板与被测晶
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112630480 B
(45)授权公告日 2022.08.16
(21)申请号 202110032439.2 G01R 35/00 (2006.01)
(22)申请日 2020.07
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