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一种AOI快速检测方法及快速检测系统.pdf

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本发明属于AOI检测技术领域,公开了一种AOI快速检测方法及快速检测系统,包括利用AOI设备进行扫描检测获取灰阶实物图,并通过调整阈值将获取的图像进行二值化处理,确定PCB的疑似缺陷;采用离线复检过滤部分假缺陷;利用VT复检机对过滤后疑似缺陷进行真假缺陷确定。本发明减少了误测,提高昂贵的AOI设备的生产效率,节约生产成本和检测时间。本发明针对不同产品的表面的基材与金属的反光敏感度不同,合理调整阈值,尽可能的将灰度值的th分界达到理想值,可以有效的减少误报并且还可以减少设备漏失。本发明进行离线复检

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112669272 A (43)申请公布日 2021.04.16 (21)申请号 202011529747.8 G06K 9/62 (2006.01) (22)申请日 20

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