一种非破坏性光学检测系统.pdfVIP

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  • 2023-06-05 发布于四川
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本发明提供一种非破坏性光学检测系统,用以检测集成电路沉积的多个膜层的厚度,其包括一检测单元以及一转换单元,检测单元包括对应待测的集成电路而设的光学传感器,光学传感器能够发出包括两种以上不同波长范围的光源,以发出对应于膜层的材质能够穿透的一检测光波,检测光波遇到集成电路所测的膜层的界面时产生一反射光波,反射光波经光学干涉而被光学传感器接收以产生一光谱信号。转换单元电性连接于检测单元,转换单元接收光谱信号并通过光谱分析以获得一波形强度,并以波形强度计算出所测的膜层的厚度。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112747681 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 20191

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