电子产品认证中出现的不合格项目.pptxVIP

电子产品认证中出现的不合格项目第1页/共78页 2 检测成就未来，检测成就品质　电子产品认证中,常出现的不合格项目一．辐射不能满足实验的要求二．传导不能满足实验的要求三．静电不能满足实验的要求对不能满足实验的测试项目.有两种办法进行去考虑Ａ．设计前期没有考虑、或者考虑不周-----事后补救(整改)Ｂ．设计前期考虑EMC问题---------从源头做起.国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计量 质 量 检 测 研 究 院 第2页/共78页 3一．辐射不能满足实验的要求辐射发射的原理电子电器设备在正常工作时，会同时向周围空间辐射骚扰．导致产品的EMI测试通不过，在解决产品辐射发射问题，需要了解发射的原因．这样才能更好有效的解决问题．一般产品的对外辐射干扰分为共模发射和差模发射．检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第3页/共78页 4检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 差模辐射何共模辐射场强计算公式共模辐射场强： E =1.26× I × L × f / r其中： I为共模电流强度；L为共模电流路径长度；f为共模电流频率；r为测试点距离共模路径的距离。减小共模发射，减小共模电流路径的长度，减小共模电流．差模辐射场强： E = 6 .2 × I × A× f 2/ r其中： I为差模电流强度；A为差模电流环路面积；f为差模电流频率；r为测试点距离差模环路的距离。减小差模发射：减小环路面积，减小差模电流．第4页/共78页 5检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 减小差模和共模干扰的关键根据对产品辐射模型的了解，我们可以初步得出产品ＥＭＩ问题设计解决的关键．　减小设计单板中差模信号的环路面积　减小设计单板中共模信号的回路路径加大共模阻抗，减小高频噪声电流（滤波．隔离．及匹配等措　　　　　　　施）增大干扰源与对敏感电路之间的距离第5页/共78页 6检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 EMC三要素明确EMC三要素，是工程师定位与整改EMC问题的前提，明确了辐射发射的源头与耦和路径，工程师整改对策才能有的放失，快速有效的解决问题．第6页/共78页 7检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 EMC三要素干扰源　　耦合路径　　敏感设备缺少一个都不能构成EMC问题，因此只要解决其中的一个因素就可以解决EMC问题．第7页/共78页 8检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 电子产品的干扰源开关电源，继电器，马达，时钟等，同时由时钟输出到数字芯片，数字芯片输出的数字信号都可能导致产品的辐射发射超标．第8页/共78页 9检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 耦合路径分析线路板上的干扰源主要是通过传导和辐射的方式，直接或间接导致系统辐射超标！比如：时钟信号通过空间辐射耦合到电缆，再通过电缆空间辐射耦合到天线接收，最终导致产品辐射发射超标！　第9页/共78页 10对辐射的定位●整改的前提是定位●定位有两种手段：一种是直觉判断，需要完全依靠工程师积累的EMC经验来判断，另一种是比较测试，依靠测试仪器和EMC经验的结合来对问题进行详细的定位判断。检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第10页/共78页 11对电子产品辐射不合格的定位分析检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第11页/共78页 12附一张辐射的图： 检测成就未来，检测成就品质国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第12页/共78页 13 检测成就未来，检测成就品质对辐射的图进行分析：1.如果在30-300Mhz之间呈现包状扫描图。判断是电源问题引起的。2.如果在扫描图中，发现是尖点时，需要计算，肯定是电路中的晶振电路的倍频引起的。国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第13页/共78页 14 检测成就未来，检测成就品质利用频谱分析利用频谱在样机上面找远场中找到的频点。。国家数字电子产品质量监督检验中心深 圳 计 量 质 量 检 测 研 究 院 第14页/共78页