确定电气或电子系统的特征温度.pdfVIP

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  • 2023-06-05 发布于四川
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一种用于确定电气或电子系统的特征温度(Tj)的方法包括在操作期间测量所述系统的特征参数,并且基于热模型(M_th)和测量的参数的第一子集来估计温度(Tj)。基于TSEP模型(M_TSEP)和估计的特征温度(Tj)来预测TSEP的第一值(V1)。基于测量的参数的第二子集来确定TSEP的第二值(V2)。比较第一值和第二值(V1、V2),并且基于比较的结果来适配模型(M_TSEP、M_th)。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112752960 A (43)申请公布日 2021.05.04 (21)申请号 201980062221.2 (74)专利代理机构 中国贸促会专利商标事务所

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