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发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法.pdf

    本发明公开一种发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法。发光二极管晶圆包括一晶圆基底以及设置在晶圆基底上的多个发光二极管芯片、多个测试用正极线路层、多个测试用负极线路层、多个测试用正极接点以及多个测试用负极接点。每一发光二极管芯片的一正极接点与一负极接点分别电性连接于相对应的测试用正极线路层与相对应的测试用负极线路层。多个测试用正极接点分别电性连接于多个测试用正极线路层，多个测试用负极接点分别电性连接于多个测试用负极线路层。借此，让电流由多个测试用正极接点输入后，再从多个测试用负极接点输出

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112798923 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 20191

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