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一种堆叠测试机通道的高压测试方法.pdfVIP

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  • 2023-06-07 发布于四川
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一种堆叠测试机通道的高压测试方法.pdf

    本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种堆叠测试机通道的高压测试方法。具体方法如下：S1：上电初始化开始；S2：开始自检测试，若自检测试通过，判断是否用户分组配置；若不通过，则将不通过信号发给主控系统；S3：判断是否用户分组配置，若需要，则进行通道堆叠处理配置及抑制电路噪声处理配置；若不需要，则直接进入通道配置；S4：进入通道配置；S5：进行通道自检，若自检成功的，则整机完成自检；若自检不成功的，则将不成功信号发给主控系统；S6：则整机完成自检；S7：结束。同现有技术相比，将不同的电压输出和

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112834913 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 202110025104.8 (22)申请日 2021.01.08 (71)申请人 胜达克半导体科技（上海）有限公司

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