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- 2023-06-07 发布于四川
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一种测试电路及降低扫描测试中捕获阶段功耗的方法，其中测试电路应用于功能模块，该电路包括：至少两个内部复位模块，用于一一对应地对功能模块内部的至少两个节点进行复位控制；至少两个保持寄存器，被配置为在扫描数据移入阶段输入并锁存测试向量，在捕获阶段输出锁存的测试向量，其输入第一扫描测试使能信号、功能逻辑模块的输出信号和测试向量；第一或门，其输入第二扫描测试使能信号和控制寄存器的输出信号；至少两个第二或门，其输入对应的保持寄存器的输出信号和第一或门的输出信号，其输出端连接对应的内部复位模块。由此，在DF
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116224045 A
(43)申请公布日 2023.06.06
(21)申请号 202310508664.8
(22)申请日 2023.05.08
(71)申请人 上海励驰半导体有限公司
地址 2
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