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    一种检测芯片和检测系统，该检测芯片包括加样开口和至少一个检测分支结构。至少一个检测分支结构中的每个包括检测部；检测部包括检测凹槽和反应试剂，检测凹槽与加样开口连通，反应试剂容纳在检测凹槽中，检测部被配置为允许对位于检测凹槽中的反应试剂进行光学检测。该检测芯片可有助于实现自动化检测，并可有助于实现便于携带的检测装置。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112834763 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 20201

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