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本发明提供了一种光学系统倍率色差的测量方法,属于光学检测技术领域,用于检测待测光学系统的倍率色差,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,使用4种波长分别为λ1~λ4的平行光分别测量待测光学系统在一定角度的视场下的成像位置;步骤S2,将视场的4个成像点位置分别代入公式:中,计算得到Ai、Bi、Ci以及Di的数值,i为视场;步骤S3,改变平行光的入射角度,选取n个不同角度的视场,重复步骤S1~步骤S2,计算4种波长为λ1~λ4的平行光在n个视场下的成像位置;步骤S4,选取倍率色差对应的波长λm以及波长
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112985780 A
(43)申请公布日 2021.06.18
(21)申请号 202110294199.3
(22)申请日 2021.03.19
(71)申请人 苏州维纳仪器有限责任公司
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