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- 2023-06-12 发布于四川
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本公开涉及制造半导体器件的光致抗蚀剂组合物和方法。制造半导体器件包括形成光致抗蚀剂层。将光致抗蚀剂层选择性暴露到光化辐射并显影以形成图案。光致抗蚀剂组合物包含:含碘敏化剂、光活性化合物和聚合物。含碘敏化剂包括铵、鏻或杂环铵碘化物,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113050374 A
(43)申请公布日 2021.06.29
(21)申请号 202110331803.5
(22)申请日 2021.03.29
(30)优先权数据
63/002,24
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