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一种异常芯片的数据状态分布统计系统及方法.pdfVIP

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  • 2023-06-12 发布于四川
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一种异常芯片的数据状态分布统计系统及方法.pdf

    本申请实施例提供一种异常芯片的数据状态分布统计系统及方法，其中，所述异常芯片的数据状态分布统计系统至少包括：采样比较模块，用于将每一列地址下的期望数据与对应列地址在不同读取电压下的读取数据进行比较，得到每一读取电压下的错误比特信息集合和每一错误比特信息对应的错误比特单元的列地址；信号产生模块，用于通过期望数据对应的数据状态集合中的数据状态，产生与数据状态对应的控制信号；所述选择模块，用于根据控制信号和列地址，从错误比特信息集合中筛选出与目标列地址对应的目标错误比特信息，以实现通过目标错误比特信息

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113035264 B (45)授权公告日 2022.03.18 (21)申请号 202110338582.4 审查员 邢白灵 (22)申请日 2021.03.30

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