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- 2023-06-17 发布于四川
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本发明提供一种基于双激光的测距方法,方法包括:将激光测距仪调整至水平状态;将激光测距板放置于激光测距仪前面一第一位置,获取第一位置的第一激光测距模块到激光测试板的距离FB,第二激光测距模块到激光测试板的距离GC,并获得距离BC,第一激光测距模块与第二激光测试模块形成一顶点A;求取AF和AG的值;并求取∠FAG的角度值;进而得到AB、AC的值;根据上述的值,可以获取到A点到BC的距离AH;通过将激光测距仪移动至所需要测试的位置,即可得到测试距离;其采集的距离数据更加准确。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113281764 A
(43)申请公布日 2021.08.20
(21)申请号 202110398349.5
(22)申请日 2021.04.08
(71)申请人 恒鸿达科技有限公司
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