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本发明涉及辐射场调控技术领域，具体提供一种辐射场调控系统的漏束降低方法及应用该方法的调控系统，旨在解决现有技术中辐射场应用场景中出束口处的辐射量存在检测盲区与控制盲区的技术问题。为此目的，本发明的辐射场调控系统的漏束降低方法包括控制中心、出束口、中子屏蔽件、伽马屏蔽件、中子探测器、伽马探测器，由控制中心对中子屏蔽件和伽马屏蔽件进行移动控制，中子探测器和伽马探测器对出束口进行实时检测和反馈，能够在降低设备体积的情况下实现出束口处的漏束屏蔽，消除出束口处辐射量的检测盲区和控制盲区，提高辐射场应用的安
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116271568 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202310065603.9
(22)申请日 2023.01.13
(71)申请人 中子高新技术产业发展（重庆）有限
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