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本发明涉及集成电路设计技术领域，更具体的，涉及一种利用源隔离加固和极性加固的抗辐射Latch电路，以及基于该抗辐射Latch电路封装的模块。本发明的存储节点X1、X2、X5、X6均由NMOS晶体管包围，形成极性加固，使得X1、X2、X5、X6有效避免发生翻转。本发明使用了源隔离技术，使X0、X3、X4、X7节点上也仅产生“1‑0”和“0‑0”的电压脉冲，可以有效减少电路敏感节点数量，提高了电路稳定性。本发明构建了C单元，其结构简单还有良好的抗辐射能力，可在多节点受到轰击时配合作用保证Q的正确输出
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116318056 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202310282319.7
(22)申请日 2023.03.20
(71)申请人 安徽大学
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