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本发明涉及现代分析测量技术领域，特别提供提供了一种超低温杜瓦系统的磁光和拉曼联合测量系统，包括：激光器、机械斩波器、输入光路、第一非偏振分束镜、第二非偏振分束镜、照明光路、第三非偏振分束镜、倾斜杜瓦观察窗、反馈光路、CCD电子目镜、第四非偏振分束镜、1/2波片、沃拉斯顿棱镜、平衡光电二极管、反光镜和光纤耦合器、锁相放大器、拉曼谱仪与主控电脑；通过各原件及支路的合理设置，克服了光照强度，远距离成像等难点，可实现成像的同时进行磁光和拉曼测量，对超低温下研究二维材料物理性质提供了前沿的测量平台。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113588620 B
(45)授权公告日 2022.06.03
(21)申请号 202110704247.1 G01N 21/01 (2006.01)
(22)申请日 2021.06
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