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本发明提供一种光学平面平行度及微小位移测量系统,光学微小位移测量系统包括第一壳体、光源组件、第一反射组件和投射壁S1;第一反射组件包括一光学反射体,光学反射体包括一反射表面;光学反射体包括固定端部和自由端部;光学反射体的自由端部相对于固定端部位置改变时,线光源入射平面与反射平面相交位置的夹角相应改变;第一壳体上设置有投射壁S1,线光源经反射表面反射后射向投射壁S1相交并形成可视相交线。光学平面检测系统在光学微小位移检测系统的基础上,光源组件设置两组线光源,分别靠近所述第一壳体的四个侧面中的两个设
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113566746 B
(45)授权公告日 2021.12.17
(21)申请号 202111130992.6 G01B 11/02 (2006.01)
(22)申请日
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