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快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法.pdfVIP

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  • 2023-06-26 发布于四川
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快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法.pdf

    本申请公开了一种快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法。该方法包括：通过对取向硅钢成品表面进行处理，得到光亮且平整的金属基体，并通过扫描仪得到所述金属基体中晶粒的扫描照片；通过将所述扫描照片设置为灰度模式，确定所述晶粒的平均灰度值，并根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以确定所述晶粒的晶面密勒指数；通过粉纹法对所述晶粒的磁畴进行观测，获得所述晶粒的磁畴壁与轧向的夹角；根据所述晶面密勒指数，以及所述磁畴壁与轧向的夹角，确定晶粒密勒指数，从而实现快速测量取向硅钢成品的晶粒取向。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116297459 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202310372014.5 (22)申请日 2023.04.10 (71)申请人 首钢智新迁安电磁材料有限公司 地址

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