一种中硼硅玻璃缺陷的检测方法、系统、装置及存储介质.pdfVIP

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2023-07-02 发布于四川
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一种中硼硅玻璃缺陷的检测方法、系统、装置及存储介质.pdf

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本申请涉及图像处理领域，公开了一种中硼硅玻璃缺陷的检测方法、系统、装置及存储介质，在获取待检测样本图像之后进行预处理，得到梯度图;计算像素点(x,y)的锐度增强指数WS(x,y)，并确定出待检测样本图像中的划痕像素点及其关联像素点，得到经过像素点(x,y)的划痕边长L(x,y)；计算像素点(x,y)的增强系数D(x,y)以对待检测样本图像中的像素点(x,y)进行增强处理，从而识别出待检测样本图像中的缺陷。本申请处理方式考虑到了背景光线对增强程度的影响，并基于构建窗口锐度增强指数，更准确的描述划痕

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116363140 A (43)申请公布日 2023.06.30 (21)申请号 202310645523.0 G06T 7/136 (2017.01)