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- 2023-07-05 发布于四川
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本申请提供一种平场校正参数的获取方法及装置，方法包括获取待校正图像的暗场图像；计算并存储暗场行均值向量和暗场列均值向量；调用存储的暗场行均值向量，计算暗场行均值矩阵；调用存储的暗场列均值向量，计算暗场列均值矩阵；将暗场行均值矩阵和暗场列均值矩阵相加，得到每一个暗场像素点的FPN参数；获取待校正图像的亮场图像中每一个亮场像素点的PRNU参数；将FPN参数和PRNU参数输出为待校正图像中每一个待校正像素点的平场校正参数。本申请仅需要存储待校正图像的行均值向量和列均值向量，减小了平场校正时需要存储的参
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113808046 A
(43)申请公布日 2021.12.17
(21)申请号 202111097720.0
(22)申请日 2021.09.18
(71)申请人 凌云光技术股份有限公司
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