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任意椭圆偏振射电波起偏检偏和偏振度测量的装置技术.pdfVIP

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  • 2023-07-06 发布于四川
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任意椭圆偏振射电波起偏检偏和偏振度测量的装置技术.pdf

    本发明的名称为任意椭圆偏振射电波起偏检偏和偏振度测量的装置技术，主要应用于实验教学领域，具体而言是大学物理实验、微波实验和中学物理演示实验。在现有的实验教学中，光学实验通常是以可见光作为光源进行实验，以射电波作为光源的实验很少。且由于波片是成品，因此可见光很难实现任意偏振度的椭圆偏振，并且没有测量偏振度的实验。本装置创新地用射电波为光源，自制的栅网作为起偏器和检偏器，然后改变两光源位置再通过偏振光在半波振子处叠加实现任意椭圆偏振，并且通过旋转半波振子天线进行偏振度的测量。本装置及方法能够很好的运

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113823157 A (43)申请公布日 2021.12.21 (21)申请号 202110527215.9 (22)申请日 2021.05.11 (71)申请人 中国矿业大学（北京）

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