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本发明公开了一种二极管制备控制优化方法及系统，涉及生产控制领域，其中，所述方法包括：分析目标二极管的生产制备工艺中M个工艺步骤的生产难度，获得M个生产难度参数；获得M个关联度参数，结合M个生产难度参数，获得M个工艺步骤的综合关键值，并选取N个关键步骤；获得N个工艺参数区间；基于N个工艺参数区间，获得N个待寻优工艺参数集，分别在N个待寻优工艺参数集中进行寻优，获得N个最优关键工艺参数，对生产制备工艺进行控制优化。解决了现有技术中二极管的生产制备工艺精准性低，进而造成二极管的生产质量不高的技术问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116432867 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310677486.1
(22)申请日 2023.06.09
(71)申请人 日照鲁光电子科技有限公司
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