原创力文档- 9
- 0
- 约1.13万字
- 约 13页
- 2023-07-20 发布于四川
- 举报
本申请公开了一种封装芯片电学性能测试结构的制作方法、封装芯片电学性能的测试方法，包括：提供第一晶圆和第二晶圆；分别在所述第一晶圆和所述第二晶圆上形成顶层金属层；分别在所述第一晶圆和所述第二晶圆的部分所述顶层金属层上形成凸块；去除所述第一晶圆中位于所述凸块下方之外的顶层金属层，完全保留所述第二晶圆中的顶层金属层；分别封装所述第一晶圆和所述第二晶圆形成第一颗粒和第二颗粒，将所述第二颗粒设置于基板上，所述凸块与所述基板连接，所述基板相对于所述第二颗粒的另一侧设置有用于测试的导电结构；采用探针与所述导电
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113539868 A
(43)申请公布日
2021.10.22
(21)申请号 20201
您可能关注的文档
- 一种猪瘟弱毒病毒的培养方法.pdf
- 一种处理部件、数据处理的方法以及电子设备.pdf
- 目标地址确定方法、装置、计算机设备和存储介质.pdf
- 一种永磁同步轮毂电机过采样无差拍补偿控制器的构造方法.pdf
- 充电装置.pdf
- 一种超声扫描路径的优化方法及超声设备.pdf
- 一种自动化扫码的方法和系统.pdf
- 一种订单处理方法、装置、存储介质和计算机设备.pdf
- 一种输电线路火焰检测方法及系统.pdf
- 一种基于深度检测的长时目标跟踪方法.pdf
- 中国国家标准 GB/Z 37551.300-2026海洋能 波浪能、潮流能及其他水流能转换装置 第300部分：河流能转换装置发电性能评估.pdf
- GB/T 44937.3-2025集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法.pdf
- 中国国家标准 GB/T 44937.3-2025集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法.pdf
- 《GB/T 44937.3-2025集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法》.pdf
- 中国国家标准 GB/T 44937.1-2025集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义.pdf
- GB/T 44937.1-2025集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义.pdf
- 《GB/T 44937.1-2025集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义》.pdf
- 中国国家标准 GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法.pdf
- 《GB/T 4937.10-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击 器件和组件》.pdf
- 中国国家标准 GB/T 44937.2-2025集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室法.pdf
最近下载
- 山东省济南市槐荫区2025~2026学年上学期七年级英语期末考试试题（含答案，无听力原文及音频）.pdf VIP
- 重庆中考数学第9题专题练习.pdf VIP
- 建设工程变更管理办法（含表格）.doc
- 大学生职业生涯规划与就业指导高职全套完整教学课件.pptx
- 驾考宝典科目一2025 .pdf VIP
- 2025国家市场监督管理总局公开遴选公务员职位笔试备考试题及答案解析.docx VIP
- 期末教学质量分析会，校长总结讲话： 凝心聚力找短板，精准发力提质量.docx VIP
- 管道安装工程质量保证措施.docx VIP
- 2025国家市场监督管理总局公开遴选公务员职位笔试模拟试题及答案解析.docx VIP
- 安徽省华师联盟2026届高三1月质量检测数学试卷（含答案详解）.doc VIP
文档评论（0）