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1. 薄膜的形成机理
2. 物理气相沉积
3. 化学气相沉积
4. 化学溶液镀膜法
5. 液相外延制膜法
6. 膜厚的测量与
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先进材料 技术
3.1 薄膜的形成机理
薄膜材料在现代科学技术中应用十分广泛,制
膜技术的发展也十分迅速。
制膜方法—分为物理和化学方法两大类;
具体方式上—分为干式、湿式和喷涂三种,
而每种方式又可分成多种方法。
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先进材料 技术
3.1 薄膜的形成机理
薄膜的生长过程
(1) 核生长型 (Volmer Veber型)
特点:到达衬底上的沉积原子首先凝聚成核,后
续飞来的沉积原子不断 在核附近,使核在三
维方向上不断长大而最终形成薄膜。
这种类型的生长一般在衬底晶格和沉积膜晶格不
相匹配 (非共格)时出现,大部分的薄膜的形成
过程属于这种类型。
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先进材料 技术
3.1 薄膜的形成机理
薄膜生长的四个阶段
a.成核:在此期间形成许多小的晶核,按统计规
律分布在基片表面上;
b.晶核长大并形成较大的岛:这些 具有小晶
体的形状;
c. 岛与岛之间聚接形成含有空沟道的网络
d.沟道被填充:在薄膜的生长过程中,当晶核一
旦形成并达到一定尺寸之后,另外再撞击的离子
不会形成新的晶核,而是依附在已有的晶核上或
已经形成的岛上。分离的晶核或岛逐渐长大彼此
结合便形成薄膜。
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先进材料 技术
3.1 薄膜的形成机理
(2) 层生长型 (Frank-Vanber Merwe型)
特点:沉积原子在衬底的表面以单原子层的形式
均匀地覆盖一层,然后再在三维方向上生长第二
层、第三层……。
一般在衬底原子与沉积原子之间的键能接近于沉积
原子相互之间键能的情况下 (共格)发生这种生
长方式的生长。
以这种方式形成的薄膜,一般是单晶膜,并且和衬
底有确定的取向关系。例如在Au衬底上生长Pb单
晶膜、在PbS衬底上生长PbSe单晶膜等。
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先进材料 技术
3.1 薄膜的形成机理
(3) 层核生长型 (Straski Krastanov型)
特点:生长机制介于核生长型和层生长型的中间
状态。当衬底原子与沉积原子之间的键能大于沉
积原子相互之间键能的情况下 (准共格)多发生
这种生长方式的生长。
在半导体表面形成金属膜时常呈现这种方式的生长
。例如在Ge表面上沉积Cd,在Si表面上沉积Bi、
Ag等都属于这种类型。
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