JB 2542-1991光学计量仪器用光学机械测微装置通用技术条件.pdf

JB中华人民共和国机械行业标准JB/T 2542—91光学计量仪器用光学机械测微装置通用技术条件1991-07-16发布1992-07-01实施机械电子工业部·发布 中华人民共和国机械行业标准光学计量仪器用光学机械测微装置JB/T 2542-91通用技术条件代替JB2542—79主题内容与适用范围木标谁规定了光学机械测微装置（以下简称装置）的基本参数、技术要求和试验方法。本标准适用了光学计量仪器用的线值和角值光学机械测微装置。不适用于自准直系统的测微装置。在产品技术标准、订货合同或者其它文件中引用木标准则必须执行。必要时，可将所须引用部分的条款写入产品技术标准及其它文件。引用标准GB 1784光学分划零仆通用技术条件GB 1785光学仪器宇型和符号GB 1185光学零件表面症病ZB Y002仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法3 基本参数3.1基木参数应符合表1中的规定。表1线值角值序μm(!)号最小分划值10,5,2,1,0.510,5.2,11210003600 4技术要求4.1装暨在整机中应美观，并需保证下列质量：a。电镀表面不应有脱皮，b。漆面不应有油漆脱落现象和显著的颜色不均勾，C。零件表面不应有毛刺，外部零件锐边应倒棱，d。外部零件接合处应齐整，无粗糙不平现象。4.2装置的所有紧固零件应保证剧紧可靠。4.3装置的各活动部分在转动和移动时应乎稳舒适，不应有卡住和急跳现象。活动部分的限位机构的作用应明显可靠。机械电子工业部1991~07-18发布1992-07-01实施1 JB/T 2542--914.4装置上的所有刻线、刻字应清晰，刻线刻字的技术条件应符合GB1784和GB1785的规定。4.5光学零件的表面症病应符合GB1185的规定。胶合光学零件的胶合面不应有气泡和脱胶现象。4.6测微光学系统应保证在读数范围内成象清晰。4.7读数视场的照明应均匀，亮度要适中。4.8读数视场内不应有明显的和影响测量的灰尘和污物。4.9读数视场内指标线与分划线不应有明显的视差。4.10读数视场内，指标线与相应的分划线不应有明显的和影响测量的倾斜现象（或符合设计要求）4.11装置的主要技术指标应符含表2中的规定。2最小分值疗线值角佤()lim称求*1010.5101级2级1级2级3级装置准确瘦与装置机匹配的物镜放尺率的正确性≤0.70.50.70.310.5裴置正反而读数的不3致性2.550.50.30.50.33.4.12装置在整机中的抗运输环境性能，在包装运输条件下，应符含ZBY002中的规定。4.13，对于本标准未作规定的特殊要求，在产品技术标准和其它技术文件中引用时应注明。5试验方法5.1试验的环境条件应符合被试测微装置整机产品技术标准中规定。5.2对木标准第4.1、4.6、4.7、4.8、4.9和4.10条进行目测检验。5.3对本标准第4.24.3条进行实际操作检验。5.4本标准第4.11条表2中序号1，装置准确度。5.4.1试验工具5·4·1·1对线值的测微装置试验，一般使用下述试验工具：a尺寸为1.00、1.02、1.04、1.06,1.08,1.10、1.20、1.30、1.40、1.50、1.60、1.70、1.80、1.90、2.00mm的三等量块*b。分划值为1um的光学计管和专用夹具（用于非接触测量类仪器，如：测量投影仪、工具显微镜等）。c.裤有三珠丁作台的专用夹具（用于非接触测量类仪器。如测量投影仪、工具显微镜等）2 JB/T 2542--915·4·！·2对角值的测微装暨试验，一般使用下述试验工具：a·：多面体或平面反射镜;b：专用心轴或平面反射镜专用夹具c自准直仪：对自准直仪中所用到的位暨，其误应预先进行检定，检定极限误差不应大于被试读数装置准确度的四分之一5·4·2试验方法5·4·2·1对线值测微装置的试验，根揭被试仪器的测量方法，一般按下述方法进行试验：a·被试测微装置的整机是接触测量时，如：万能测长仪。在测量杆上装上球面测帽，移动测量轴，使两球面测相接触，借助尾管上的调整螺丝，将球面测帽调整至正确位置。将尺寸为1：00mm的量块放入两球面测帽之间，调整测微装置和尾管，使测微装置对准零位。然后依次用5·4·1·1条中a项所列的14块量块放入两球面测帽之间，并依次地使双刻线与毫米分划尺的同一刻线对准并读数。每一点应逊行四次对准和读数，取其算术平均值作为该点的测得值。任意两点的误差的代数差，均不应超过本标准的规定。b。被试测微装置的整机是非接触测时，：测垦投影仪、工具显微镜等。将帮有光学计管的专用夹具安装在镜简上，带有三珠工作台的专用来具安装在被试测微装置整机的工作台上，使光学计管的轴线与工作台滑座行租（被试方尚）平行，尽可能肇近整机被试方向的标准器，并使光学计管球面测帽中心对在三珠工作台三