JB 8371-1996容栅线位移测量系统数显单元 0.01mm.pdf

J42JB中华人民共和国机械行业标准JB/T栅线位移测量系统数显单元0. 01mm1996-04-22发布1996-07-01实施中华人民共和国机械工业部发布 JB/T 8371--1996前言本标准参照电子数显卡尺国家标准的有关规定，根据容栅线位移测量系统的工作原理确定数显单元的各项技术参数。数显单元属电子组件，因此试验规程引用了国家标准电工电子产品基本环境试验规程。本标准适应于容栅节距为5.08mm的数显单元，但对于能达到本标准规定的各项技术要求而容栅节距不同的数显单元同样适应。本标准的附录A是标准的附录，它规定了数显单元的检验方法。本标准自1996年7月1日起实施。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。本标准由合肥微型计算机应用技术研究所负责起草，航天工业总公司101所，上海量具刃具厂参加起草，本标准主要起草人：王吕纯、花海安、蒋锐。 中华人民共和国机械行业标准容栅线位移测量系统数显单元JB/T 837119960.01mm范围本标准规定了分辨率为0.01mm的睿栅线位移测量系统用数显单元的术语、型式、技术要求、检验规则及标志和包装。本标准适用于容栅节距为5.08mm，示值范周为999.99~999.99mm或9999.99~9999.99mm的容栅线位移测量系统用数显单元。2引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用面构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 2423. 3—87电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定混热试验方法GB 2423. 587电工电子产品基本环境试验规程试验Ea冲击试验方法GB 2423. 10 - 87电工电子产品基本环境试验规程试验Fc：振动(正弦)试验方法GB 2423. 2287电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB 282887逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB 282987周期检查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查）3定义3.1数显单元由专用大规模集成电路、副栅和显示器等构成的组件，3.2容栅由主栅、副概梅成的一组电容式位移传感器。3.3主栅容栅式位移传感器的一极、概条间距与副间距相匹配，主栅的总长度由测量系统的测量范围确定。3.4副栅容栅式位移传感器的另一极，概条上分别加载有相位不同但按周期变化的激励电压信号，标条间距由容栅线位移测量系统原理的要求而定。3.5客栅节距副栅上每一周期激励电压信号所加款的概条间距总和或与其对应的主概条间距。3.6极限移动速度。数显单元在测量系统正常工作条件下能进行正确测量的最大移动速度。3.7容栅测量系统由数显单元和主构成的能进行位移测量的一种装置。机械工业部1996-04-22批准1996-07-01实施1 JB/T 8371~19964型式结构4.1基本结构典型的金属屏蔽型数显单元结构见图1。安装孔外亮/电池卖耐机+L4 = 32 ± 0. 02L4 = 54 ± 0. 1=6W,=W,=W,5.08mm(背视图）图1金属屏鼓型数显单元4.2其他容栅测量系统用数显单元的型式结构尺寸L～L及副栅组数W，接具体要求确定。5技术要求5.1工作条件5.1.1温度工作范围：0~40℃；贮存范图：—20~+70℃5.1.2相对湿度工作湿度，不大于82%RH5.1.3工作电压工作电压：1.46~1.60V，告警电压：不大于1.46V供电电压纹波；U不大于0.0155V.5.1.4大气压强86~106kPa. JB/T 837119965.2外观要求数显单元的外表面应平整，清洁：显示器应无划癌、漏液、裂纹等现象，功能符号清晰明确；副栅应平整，无表面缺陷，无凹坑、划痕、锈蚀，触点应灵活可靠。5.3副栅平面度副栅平面的平面度：不大于0.02mm。5.4显示扭曲向列型液晶显示器，可显示5或6位数字及“二”、“，等符号。液晶显示器所有显示笔划应完整、清晰，数字高度不小于4mm，在数显单元外壳各个方向施加10N压力时，所显示的字符都应完整无暗变，5.5基本功能5.5.1具备显示屏显示全零，使测量零点可任意设定的功能，5.5.2具备当供电电压低于告警电压时，数显单元的液晶显示器出现周期性闪烁显示，提醒用户更新电池的功能。5.5.3根据用户需要，可以具备其他特定功能。5.6示值误差数显单元的示值误差应不大于0.02mm5.7重复性数显单元的重复性应不大于0.01mm5.8工作电流数显单元的工作电流不大于22μA。5.9极限移动速度极限移动速度不小于1.5m/s。5.10示值漂移在1h内，示值允许变化一个字。5.11触点寿命数显单元的触点寿命不少于10000次。6试验方法6.1样品预处理6.1