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SN中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T 2003.3—2006电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法Determination of Lead, Mercury,Chromium,Cadmium and Bromine inelectrical and electronic equipmentPart 3 :Quantitative screening byX-ray fluorescence spectrometric method2006-11-15 实施2006-04-25发布中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局一数码防伪
SN/T 2003.3--2006目電次前言1 范围2 规范性引用文件方法提要3试剂和材料45仪器试料的制备6测试过程8结果报告9精密度符合性评价附录A(规范性附录)附录B(资料性附录)工作曲线的校正表1不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围表2不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求表3电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的X射线荧光光谱仪测量条件表4精密度·
SN/T 2003.3-2006前言本部分为SN/T2003的第3部分。本部分的附录A为规范性附录,附录B为资料性附录。本部分起草单位:中华人民共和国广东出人境检验检疫局、中华人民共和国天津出人境检验检疫局、中华人民共和国深圳出人境检验检疫局、中华人民共和国上海出入境检验检疫局。本部分主要起草人:宋武元、黄文娴、魏红兵、钟志光、刘志红、肖前、卫碧文、郑建国、刘丽。本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。
SN/T 2003.3—2006电子电气产品中铅、汞、铬、镐和溴的测定第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法[安全提示]:X射线荧光光谱使用了对人体有危险的放射性辐射,因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令;而且使用该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查。1 范围本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱法定量筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。本部分适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定,它覆盖了电子电气产品的所有材料类型如聚合物、金属制品和电子制品。本部分适用于待测元素的浓度范围如表1所示。表1不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴的定量筛选测定范围单位为毫克每千克元素聚合物材料金属制品电子元件CdP≤(70—30)X(130+30)≤FP≤(70—3α)X(130+30)≤FLLDX(250+30)≤FPbP≤(700-30)X(i 300+30)≤FP≤(700—30)X(1 300+30)≤FP≤(500-3α)X(1 500+30)≤FHgP≤(700-30)X(1 300+3)≤FP≤(700-3)X(1 300+30)≤FP≤(500-30)X(1 500+30)≤FBr1 P≤(300-30)XP≤(250-3g)XCrP≤(700 - 30)XP≤(700 - 3)XP≤(500-3g)x注1:X表示待测元素的测定值,P表示合格,F表示不合格。注2:LLD表示该元素的检出限,3g表示精密度。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GB/T8170数值修约规则GB/T15000.5标准样品工作导则(5)化学成分标准样品技术通则GB/T16597 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则3方法提要X射线荧光光谱仪由X光管、分光晶体、探测器、放大器、脉冲高度分析器、定时器、定标器、计数率记录仪和微处理机等部分组成。由X光管发射的原级X射线人射到样品上,样品元素受激发射出荧光X射线,并与原级X射线的散射线一起,通过准直器(索勒狭缝),以平行方式投射到晶体表面,按布拉格条件发生衍射,衍射的X射线与晶体散射线一起,通过次级准直器(称探测器准直器)进人探测器,进行光电转换,把不可直接测量的光子转变成为可以测量的电信号脉冲。探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后,即可通过计算机进行数据处理,输出结果。其中X射线荧光光谱仪的检出限必须满足电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴定量筛选的测定要
.SN/T 2003.3—2006求,如表2所示。X射线荧光光谱仪器检出限计算公式为R3(1 )LLD -sNt式中:s—工作曲线的灵敏度;Rb——背景强度(counts);tg-测定时间(s)。表 2不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求单位为毫克每于克电
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