SJT 11403-2009通信用激光二极管模块可靠性评定方法.pdf

ICS 31.260L51备案号：中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11403—2009通信用激光二极管模块可靠性评定方法Laser diode modules used for telecommunication Reliability assessment2009-11~17 发布2010-01-01 实施中华人民共和国工业和信息化部发布 J/T:114032009.前言引言：1 范围2规范性引用文件、3术语和定义、缩略语和符号，3.1术语和定义.3.2缩略语3..3符号...4可靠性和质量评定程序的般要求41产品质量认证.......7..++42检验职责．.4.3质量改进程序.“5试验程序和质量评定标准.5.1试验程序.+r..t.tilhh.h5.2.老练和筛选！iosis+-5.3质量评定程序6信息反馈及修正W:scoir6.1可靠性结果的分析...:+事一竺6.2.技术交流...eWi.ll.+**6.3设计和/或工艺调整136.4产品交付6.5供应商文件.、附录A（规范性附录）激光二极管和激光效机理 文专有SJ/T: 11403.--2009刚翼是沉性: L业标准化研究所归口化部电E开究所欣谢亮幼要标:115[-i,:1:l.i.:i:#权有 SJ/T11403--2009编制本标准目的是建立评价激光二极管模块可靠性的标准方法，以降低使用风险并促进产品的开发和可靠性检测;为预测设备失效率提供依据建立预测失效随时间分布的方法，另外，提供以下方面的指导：系统供应商从激光二极管模块伟南外担酒管模块使用前应该保证的试验小T-系统供应商为证明激光极管模块制造商可靠性的系列验评定方i?S5i F.--. ------ SJ/T11403-2009T通信用激光二极管模块可靠性评定方法范围本标准适用于光通信用激光二极管模块（以下简称激光二极管模块）的可靠性评定规范性引用文件2下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的E修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于术标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本？凡是不注日期的引用文件》其最新版本适用于本标准。第2部分：试验方法试验A：低温（IEC）GB/T2423.1一2001，一电工电子产品环境试验I60068-2-1 : 1990,IDT) GB/T 2423.2-20019境试验第2部分，试验方（IEC电工电品话试验B？高温60068-2-2: 1974,/IDT试验Ea和导则：冲击（IECGB/T2423.5-1995#电工电子产品环境试验第2部分：试验方法鑫60068-2-27:1987 ,IDT): IGB/T2423.10-1995，电工电子产品环境试验，第2部分：试验方法试验Fc和导则，振动（正弦）三(IEC 60068-2-6:1982, IDT)GB/T2423.22—=2002，电工电子产品环境试验第2部分：试验方法，试验N温度变化（IEC三60068-2-14: 1984,IDT)GB/T2423.23-1995，电工电子产品环境试验：试验Q：密封GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件TEC 60747-5 1992,43IDT)GB/T17573—1998，平导体器件：分立器件和集成电路（第1部分：总则（TEC60747-1:1983，1DT)GB/T18904.2—2002，半导体器件，第12-2部分：光电子器件红维光学系统或子系统用带尾纤-的激光二极管模块空白详细规范（1EC607.47-12-2:1995，MOD）GB/T19001—2000：质量管理体系要求（IS090012000，IDT）GJB128A—1997.半导体分立器件试验方法网GJB548A一1996微电子器件：试验方法和程序GJB915A-97纤维光学试验方法术语和定义、缩略语和符号2二3.1术语和定义下列术语和定义适用于本标准。1 3.1.1M激光二极管模块laserdiodemodule本标准中的激光二极管模块是指用激光二极管芯片、背光探测器、热敏电阻、热电致冷器、光纤和隔离器等密封在一起，以实现稳定的光学输出及简易电连接控制的元器件组合3.121i. : :衬底 submount 服权有SJ/T 11403-2009在面进行装激光二极管模块中，激光二极管和背光探测拉的热i ili3.1.3ufacturer激光二极管模块制造商aserdiodemodulena要求，且性能可激光二极管模块制造商负责提供满足详门交靠53.1.4系统供应商systemsupp数据传输设备的制造方即激二极管模块的通售TA1流运营商erato与数据传输设备的网络运营商。伴导体激义九的捕信终会