SN 2003.1-2005电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定 第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法.pdf

SN中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T 2003. 1—2005电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法Determination of lead, mercury,cadmium,chromium and bromine in electricaland electronic equipment-Part 1 : Qualitative screening by wavelength dispersiveX-ray fluorescence spectrometric method2006-01-18 实施2005-07-18 发布中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局“数码防伪 SN/T 2003.1—2005前 言本部分为SN/T2003的第1部分。本部分的附录 A为资料性附录。本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本部分由中华人民共和国深圳出入境检验检疫局起草、中华人民共和国广东出人境检验检疫局、中华人民共和国吉林出入境检验检疫局参加起草。本部分主要起草人：刘贤杰、刘志红、吴景武、刘丽、宋武元、荣会、李树华、张珠福。本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。 SN/T 2003.1-2005电子电气产品中铅、汞、镐、、溴的测定第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法1 范围本部分规定了电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的波长色散X射线荧光光谱定性筛选方法。本部分适用于电子电气产品中铅、铬、汞、镉和溴的定性筛选。2规范性引用文件下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可以使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T16597射线荧光光谱法通则3方法提要样品经制备后，在各元素定性筛选条件下用X射线荧光光谱仪进行测定，根据元素特征谱峰确定待检测元素是否存在。4试剂和材料4.1硼酸(H;BO:):分析纯,105℃烘1 h,置于于燥器中储存。4.2甲烷氩气混合气体（1十9）。5 仪器5.1波长色散X射线荧光光谱仪：符合GB/T16597规定，佬靶X射线光管。5.2 研磨机。5.3金属切割机。5.4压片机：压力不小于400kN。6样品制备6.11均匀材质样品经切割机切割或机械破碎成 20 mm～@40 mm大小,直接用 X射线荧光光谱仪测定。6.2非均匀材质及较小尺寸样品经机械破碎和研磨机研磨，制成粒径不超过1mm的粉末样，混匀后用硼酸衬底压片制样（样品厚度不低于 1 mm),压力 300 kN。7 测定待仪器稳定后，将制备好的样品按定性筛选条件(参见附录A)进行测定，测定结果以是否出现铅、铬、汞、和溴的特征谱峰来表示。1 SN/T 2003.1—20058仪器检出限要求不同基体电子电气产品对仪器检出限要求如表1。表 不同基体材料仪器检出限要求单位为 mg/kg元素电子元件聚合物材质金属材质Pb306060Cr306060Hg306060Cd153030Br15309结果判定若样品经测定出现铅、汞、镉、铬和漠中一个或多个元素的特征谱峰，可判定样品中含有这些元素；若样品经测定未出现铅、汞、镉、铬和溴元素的特征谱峰，可判定样品中这些元素的含量低于表1中仪器检出限。2 SN/T 2003.1—2005附录A(资料性附录)波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件如表A.1所示：表A.1波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件准直器28X光管电压/电流晶体检测器滤光片元素分析线()kV/mAμmSC无30060/40LiF22048.777 0La‘PbSC无Li40Ls40.382 4无300LiF220DUPLEXK.60/40Cr107. 109 4SC300无LiF22060/40La51. 710 0Hg无LiF220SC30060/40Lp43. 225 2LiF200SC300Brass300K.60/40Cd15. 293 8无sC30060/40LiF220 BrK.42.879 2注：其他元素对部分谱线有于扰，应注意分析排除。铅分析过程中L。分析线常出现砷干扰，应选取铅L：分析线作辅助分析；汞分析过程中 L。分析线常出现锗和干扰，应选取汞 Lβ分析线作辅助分析;铬、镉和溴一般无于扰。 2002-12002 /S中华人民共和国出人境检验检疫行业标准电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法SN/T 2003. 1--2005*中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码：100045网址 www. b