SJT 10015-1991JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件.pdf

SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10015—91JU38和 JU26 型钟表用32kHz音叉石英晶体元件1991-07-01实施1991-04-08发布中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准JU38和JU26型钟表用32kHz音叉石英晶体元件SJ/T 10015--9132kHz tuning fork quartz crystal unitsfor clocks and watches type JU38 and JU26本标准参照采用国际电工委员会IEC689(SJ/Z9162)标准《手表用32kHz石英晶体元件的测量方法和试验方法及标准值》第一版（1980）。本标准除文字编排上不同之外，还增加了检验规则、标志、包装、运输和贮存等内容。主题内容与适用范围本标准规定了JU38和JU26型钟表用音叉石英晶体元件（以下简称晶体元件）技术条件。该晶体元件主要用在电子石英钟、表和时钟型计算器以及其他计时仪器中。2引用标准1GB2421电工电子产品基本环境试验规程总则GB2422电工电子产品基本环境试验规程名词术语GB2423电工电子产品基本环境试验规程GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表GB2829周期检查计数抽样程序及抽样表GB 191包装贮运图示标志3结构、外形尺寸和重量谐振器的结构如图1，外形尺寸和重量见表1。采用说明：1下述标准在相应的国家标准未制订前，应引用归口所的相应译文。IEC689手表用32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值。1991-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1 SJ/T 10015-91D图1结构表1多外形尺寸和重量尺寸mm最大重量型号代号标称值最大值最小值gD3. 002. 923. 08H8.30-wJU381.101. 300.900.20d0. 300. 370. 23L7. 00?D2. 002. 081. 92H6.10wJU260.700. 900. 500.1520. 200. 2?0. 18L0. 704技术要求及试验方法4.1标准值及允许偏差和试验条件4.1.1标准值及允许偏差：见表2。4.1.2试验条件4.1.2.1除另有规定外，所有试验应在环境温度为15～35℃，相对湿度为45%～75%，大气压力为86～106kPa的正常大气条件下进行。试验前晶体元件应在正常大气条件下至少放置ih。4.1.2.2除非另有规定，频率和电阻的测量，应在下述条件下进行：晶体元件应在基准温度下并达到热平衡后进行测试；a测量前应将激励电平调到规定值，测量过程中应保持激励电平稳定，一般不再进行调b整;对测量仪器的要求：频率测量误差应小于规定频差值的1/5，电阻测量误差不大于士C2 SJ/T10015-9120%测量频率和电阻相对变化时，前后两次测量应用同一测量仪器，且在相同温度（温差小于士1℃）下达到热平衡后进行测量。表2标准值及允许偏差值标准序号项目符号单位JU38,JU26BcA327681标称频率JHz-10~+602℃工作温度范围±20±30±503调整频差（25士0.5℃）4f/f10≤30≤40±50R.4最大谐振电阻(工作条件下)kQ21.850最小动态电容pF50000300006品质因数Q1. 6±0.167并电容pFC.25±58Tt℃零温度系数点9-40β最大抛物线系数10-°/℃21030～~+70c贮存温度范围±3±511由振动引起的频差4f/f10-6±5±512由冲击引起的频差4f/f10-613±3±5第一年老化颊差10-64f/f14±3引出端应力引起的差10-64f/f1510050V绝缘电阻，M216最大激励电平P1μw4.2外观质量4.2.1技术要求晶体元件的外壳应光滑、平整、无毛刺和凹凸现象，无较重的划伤，涂覆层无剥落和锈蚀。4.2.2试验方法用目测法检查晶体元件的外观质量。4.3结构、外形尺寸和重量4.3.1技术要求晶体元件的结构见图1，外观尺寸和重量见表1。4.3.2试验方法用能满足精度要求的任何量具和衡具来测量外形尺寸和称其重量。4.4电参数的测量测量条件：基准温度25±0.5℃(对调整频差）；25±2℃（对其他项目)。激励电平≤0.luw4.4.1谐振频率f和负载谐振频率f的测量4.4.1.1测量电路同IEC689第2.1.1条。3- SJ/T 10015-914.4.1.2测量条件1a同IEC689第2.1.2a)b同IEC689第2.1.2b)c合成器的频率分辨率至少为0.01Hz，杂散干扰小于60dB，谐波失真小于3%；d被测晶体元件在基准温度(25士0.5℃）下达到热平衡后再进行测量；e 同IEC 689第2.1.2c);f测试电平可由下式计算：V2P =(1)R.式