中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T10156—91电子元器件详细规范混合厚膜集成电路1IM0111电源误差放大电路HM0114本规范规定了混合厚膜集成电路HM0111、HM0114电源误差放大电路的鉴定和质量评定的全部内容。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-02批准1991-07-01实施
SJ/T 10156-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB8976《膜集成电路和混合膜集成电路总规范》SJ/T 10156-91GB11498《膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)》HM0111、HM0114电源误差放大电路(以下简称电路)详细规范订货资料:见本规范第8章机械说明2简要说明1外形图和尺寸:见本规范第9章。混合厚膜集成电路。安装:用锡焊。封装:用“三防”涂料包封。标志:按GB8976第2.6条和本规范第应用:用于彩色电视机电源误差放大电7章。路。3质量评定水平M注:1)“三防”指防潮热、防盐雾、防霉菌。2
SJ/T 10156--91使用的极限条件单位名称符号规定值条款号℃TA-25; +854.1工作环境温度C-55;+1254. 2 贮存温度Tstg%RH704. 3贮存湿度IIstg5电特性测试条件测试线路符号规定值单位名称条款号交流输入电压220V,负载电流:A:110±7.55. 1主输出电压B:130±7.5A:360mAB:450mA交流输入电压140~290V,按本规范负载电流:2电压稳定度AU,5. 2 第10.3条A:360mAB:450mA交流输入电压220V,负载电流:≤1.2负载稳定度AU25. 3A:140~360mAB:250~450mA注:仅在必要时,才采用B项条件和规定值。引用标准6GB 8976膜集成电路和混合膜集成电路总规范膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)GB11498电工电子产品基本环境试验规程试验Ed:自由跌落试验方法GB2423.87标志电路上应标明下列内容:7.1引出端的识别(允许用说明书说明);4b.电路的型号;生产厂商标;c.d.生产日期。7.2外包装上应标明下列内容:电路的型号;a.b.生产日期;生产厂名称;c.-3
SJ/T 10156—91d.生产厂商称;电路合格标志。e.8订货资料订购电路时至少需要下列资料:a.电路名称及型号;b.i详细规范的编号;c.评定水平。9外形图和尺寸电路的外形图和尺寸如图1所示。27 m2x3mxHM011400-0:L2.54±0.079×2.54(=22.86)8910图 110附加资料10.1电路图白白白中白白自中白白1图 24
SJ/T10156--9110.2元器件参数参数位号单位偏元器件名称差HM0111HM0114R11R24. 74. 7R:3. 33. 3R.12 12 Rs电缆阻6. 45. 3ka?±5%Rs8. 28. 2R1312.7Ra4. 23. 9Rg100100+801c电容0.010. 01uF%-20ViV2晶体管V3V.注:1)晶体管参数见有关技术资料。10.3测试线路被测电路专用测量仪Kt电压负输220V调Y电50Hz出阻整器(三洋彩电电源部分)图310.4耐久性试验线路图5
SJ/T 10156---919mA15VkPa= 0. 2W12k图 411试验条件和检验要求试验条件和检验要求按表1和表2的规定。若无其他规定,表1和表2中所引用的条款均为GB8976的条款。在表1和表2中:P:周期(以月为单位);n:样本大小;C:合格判定数(允许的不合格品数);D:破坏性的;ND:非破坏性的;IL:检查水平AQL:合格质量水平。表1条款号、试验和试验程序D/ND试验条件ILAQL性能要求A组检验(逐批)A1分组ND4.3.2外观和标志检查按本规范附录A1按本规范附录A1A2分组ND10.654.4.11在室温下的主要电性能按本规范附录A2按本规范附录A2-6
SJ/T 10156-91续表 1条款号、试验和试验程序D/ND试验条件ILAQL性能要求B组检验(遂批)B1分组$3p14.5.10可焊性按本规范附录A4按本规范附录A4°0.65B2分组NDS44.3.3尺寸用通用或专用量具进行测量按本规范第9章表 2 条款号、试验和试验程序D/ND试验条件性能要求C组检验(周期)CI 分组ND64.4.11极限工作温度下的电特性按本规范附录A3按本规范附录A3C2分组C124.4.11初始测量同A2分组同A2分组跌落按本规范附录A5按本规范附录A54.5.6振动按本规范附录A6按本规范附录A64.4.11最后测量同A2分组同A2分组C3分组D124.4.11初始测量同A2分组同A2分组4.5.11耐焊接热按本规范附录A7按本规范附录A74.5
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