SJ_T 11591.4.1.1-2016立体显示器件 第4-1-1部分：眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电.pdf

ICS 31.120L47SJ备案号：中华人民共和国电子行业标准SJ/T115—2016立体显示器件第4-1-1部分：眼镜式立体显示器件测量方法一光学和光电Stereoscopic Display Devices Part 4-1-1: Measuring methods of optical andelectro-optical parameters for stereoscopic display devices using glasses(IEC-62629-12-1:2013,NEQ)2016-06-01实施2016-01-15发布发布中华人民共和国工业和信息化部S. SJ/T115—2016目次前言II范围12规范性引用文件3测量的一般要求3. 1测量环境I: AND.DINFORMATION3. 2电源.DUSTRY3.3预热条件3.4光照条件3.5测量位置3.6测量仪器TECHNOLOG立体图像的43D亮4. 133D色4. 24.33D对比度3D串4. 49用16附录A（规范附量立体附录B（规范附录2635附录C（规范性付眼镜有效测量区域的计算方法，36附录D（规范性附录）镜有效使用区域的推算方法，圆偏振眼镜的架设方法37附录E（规范性附录快门眼镜架设方法38附录F（规范性附录）1 SJ/T 115—2016前言《立体显示器件》计划发布以下部分：立体显示器件第1-1部分：总规范；-立体显示器件第1-2部分：术语和定义；立体显示器件第2部分：眼镜式立体显示器件分规范；-立体显示器件第2-1部分：主动式眼镜立体显示器件空白详细规范；立体显示器件第2-2部分：被动式眼镜立体显示器件空白详细规范：立体显示器件第3部分：自由立体显示器件分规范；立体显示器件第3-1部分：双视点自由立体显示器件空白详细规范；立体显示器件第3-2部分：多视点自由立体显示器件空白详细规范；立体显示器件第3-3部分：集成成像自由立体显示器件空白详细规范；立体显示器件第3-4部分：头跟踪立体显示器件空白详细规范；立体显示器件第4-1-1部分：眼镜式立体显示器件测量方法一一光学和光电；-立体显示器件第4-1-2部分：眼镜式立体显示器件测量方法一视觉质量；立体显示器件第4-2-1部分：自由立体显示器件测量方法一一光学和光电；立体显示器件第4-2-2部分：自由立体显示器件测量方法一视觉质量；立体显示器件第5-1部分：机械和耐久性试验方法；立体显示器件第5-2部分：气候试验方法。本部分为《立体显示器件》的第4-1-1部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。本部分主要起草单位：友达光电（苏州）有限公司、天马微电子股份有限公司、京东方科技集团有限公司。本部分主要起草人：陈建文、周海琴、张志刚。本部分参与起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院、杭州浙大三色仪器有限公司、TCI集团公司、青岛海信电器股份有限公司、群创光电股份有限公司、中国计量科学研究院、东南大学。II SJ/T115—2016立体显示器件第4-1-1部分：眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电1范围本部分规定了采用眼镜作为辅助设备的眼镜式立体显示器件的光学和光电参测量方法。本部分适用于眼镜式立体显示器件，可作为产品设计、开发、生产中评定其光学和光电参数的方法和依据。ND.INEA和附录B。NDUSTRY2规范性引用文件件，仅注日期的版本适用于本文件。下列文件对于件的应用是不的凡是注日期的用凡是不注日期的引用文件，千本文付话版本（包）有的修改单）TECHNOLOGYFr999光学信振技术条件JB/T 931003测量的般要求R测量环境3.1福标准环境条代应符合下列规定温度：(25℃;湿度：45 %RH75 % RH;-L86 kpa-106 kPa.大气压力63.2电源D量时的电源测量显示器件的特性应在额定电源电压条件下，原电压的变化范围不大于土2%。湾3.3预热条件为了确保在测量开始后，显示器件的特性不随时间而有明显的变化，显示器件应在额定测量条件下工作不少于30min，以使显示器件性能稳定。3.4光照条件测量亮度、色度时应在暗室中进行，暗室杂散光照度低于0.31x。3.5测量位置如果使用的眼镜为线偏振眼镜和液晶快门眼镜，应保持眼镜的偏振方向与显示器的偏振方向一致，眼镜的镜面要尽可能与显示器表面平行。3.5.1光学测量位置1 SJ/T115—2016光学测量仪器设备的光轴应与被测区域正交垂直，测量距离为3倍可视区高度，如图1所示。立体显示器件立体眼镜光学测试设备驱动电源讯号源测量距离图1光学标准测量位置3.5.2均匀度测量位置进行均匀度测量时，可以模拟