SJT 10111-1991GH3123型集成电路自动测试仪.pdf

SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10111- 91GH3123型集成电路自动测试仪1991-07-01实施1991-04-02发布中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10111--91GH3123型集成电路自动测试仪1 主题内容与适用范围1.1主题内容本标准规定了GH3123型集成电路自动测试仪（以下简称测试仪）的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等要求。1.2适用范围本标准适用于测试仪的质量检验与试验。也是测试仪的设计、生产和使用的共同技术依据。2 引用标准GB 191包装储运图示标志GB 1002单相插头插座型式、基本参数与尺寸GB 4793电子测量仪器安全要求GB 6587.1电子测量仪器环境试验总纲电子测量仪器温度试验GB 6587.2GB 6587.3电子测量仪器湿度试验GB 6587.4电子测量仪器振动试验GB.6587.5电子测量仪器冲击试验GB 6587.6电子测量仪器运输试验GB 6587.7电子测量仪器基本安全试验GB 6587.8电子测量仪器电源频率与电压试验GB 6592电子测量仪器误差的一般规定GB 6593电子测量仪器质量检验规则GB 6833电子测量仪器电磁兼容性试验规范GB 11463电子测量仪器可靠性试验GB 11465电子测量仪器热分布图SJ 946电子测量仪器电气机械结构基本要求电子测量仪器随机技术文件的编制SJ 2259中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件GB10195中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法GB 101961991-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部1991-04-02批准-1- SJ /T 10111-- 913术语、代号本标准中除了使用并符合GB10195规定的术语以外，还使用以下术语、代号。3.1自动测试仪对测试仪进行测试操作后，通过仪器内部的微处理器，测试仪能自行完成规定的全部测试过程的仪器。3.2 DUT(DEVICEUNDER TEST)DUT是词头的缩写，原意是被测件。在本标准中指被测数字IC。4产品型式4.1功能：中、小规模数字IC综合测试仪。4.2工作方式：自动。4.3结构形式：台式。5技术要求5.1外观测试仪应无锈蚀、裂纹、划痕、镀涂层剥落等机械损伤；各种机件应安装正确、牢固可靠；紧固部位应无松动；文字、标志应正确、清晰；控制键应安装端正、操作灵活；塑料件应无起泡、开裂和变形；能产生显著电解腐蚀的不同材料不应直接互相接触。5.2 基本安全要求a.绝缘电阻：不小于2MQ；b.泄漏电流：不超过3.5mA（交流有效值）；c．介电强度电压：电源进线对机壳能经受有效值1500V（50Hz)时间1min的耐压试验，应无飞弧和击穿现象。5.3性能特性要求5.3.1测试仪功能5.3.1.1测试对象测试仪可测试24脚以内的双列直插与扁平封装的TTL、HTL、CMOS数字集成电路。5.3.1.2测试模式a.“功能”模式：只测试DUT的逻辑功能；b.“参数模式：只测量DUT的静态参数；c.“连续”模式：先测试DUT的逻辑功能，如合格，则连续自动测量其静态参数。5.3.1.3测试自动终止a.当DUT管脚与测试插座接触不良时，CRT能显示相应管脚号，测试仪自动中止逻辑功能测试；b．当DUT逻辑功能测试不合格时，CRT显示“NO”，测试仪自动中止静态参数测量；c．当测试仪完成测试模式所规定的测试内容后，自动终止测试。5.3.1.4逻辑功能测试在DUT额定电源电压范围内变化IC电源电压设定值并测试其逻辑功能，测试完成后，CRT显示每种电压下逻辑功能测试结果是OK”（合格）或NO”（不合格）。当管脚与测试插座12- SJ/T 10111-91接触不良时，则显示NO”,并附以相应接触不良管脚序号。DUT电源电压设定值为：a.TTL电路：4.50、4.75、5.00、5.25和5.50V；b．HTL电路：13.5、15.0和16.5V;c.CMOS电路：3、5、7、8、10、12、15和18V。5.3.1.5静态参数测量a．可测参数：Vix—输入箱位电压;VoL--输出低电平电压;VoH--输出高电平电压；IH输入高电平电流；I-输入电流；Iu输入低电平电流；Ios输出短路电流；Io(OFF)—输出截止电流；IozH——输出高阻态时高电平电流；Iozl.输出高阻态时低电平电流；loH-高电平驱动电流；IoL低电平驱动电流Icc(IpD）—电源电流；Icc一输出低电平时电源电流；IccH输出高电平时电源电流；Ron—MOS开关导通电阻；RoFMOS开关关断电阻。b.测量输出：测试仪测量静态参数时，CRT自动显示每个参数的名称、符号、数值、单位和测试结果（不合格参数显示符号“*”)。静态参数测试总结