射频硬件在环技术推动嵌入式系统设计的发展.docVIP

射频硬件在环技术推动嵌入式系统设计的发展 随着无线技术更多地嵌入诸如车载雷达和机器对机器通信等“关键任务”应用中，新的测试方法也相应出现，以确保系统的可靠性。其中一种RF驱动系统测试方法便是“硬件在环(HIL) 测试”，该测试方法属于“实时”测试类。今天，小编就将带你透过美国国家仪器大咖工程师David A. Hall的视角了解HIL测试及其在自动驾驶测试中的发展趋势。 HIL测试所采用的原理，即认为测试工程师可以创建出测试系统，以仿真现实世界中典型存在实体系统，这并非是新的理念。然而，RF技术在诸如车载雷达等关键任务应用中的日益普及，使得HIL测试成为无线应用越来越常用的测试方法。 HIL测试系统的架构 HIL测试的理念最初是作为测试航空航天和汽车工业复杂控制系统的机制而被提出来的。在典型的应用中，工程师可以通过利用HIL测试系统模拟电气信号和发动机的行为来测试发动机的电子控制单元(ECU)。在本应用中，该测试系统结合了输入和输出（常被称为“I/O”）用模拟和数字模拟接口，以及确定性处理元件，以有效仿真系统（如图1所示）。 图1、典型HIL 测试系统方块图 近年来，RF技术用作关键传感和通信技术的趋势使得很多RF系统工程师开始使用相似的测试方法。在典型的RF HIL测试系统中，相对低速的模数转换器(ADC) 和数模转换器(DAC) 被替换成了向量信号产生器和分析器。事实上，这些